s-Laue是日本Pulstec公司近期發布的一款基于圓形全二維面探測器技術的新一代X射線單晶定向系統。該設備配備六軸樣品臺，具有功率?。?0KV/1.5mA,因此輻射?。?、操作簡單、測試效率高（典型測試時間為60秒）等特點，可提供臺式、便攜式(即將發布，敬請期待)兩種類型設備，既可滿足實驗室對小樣品進行單晶定向的需求，也可以用于大型零件的現場晶體定向。

2022年10月，美國Quantum Design公司重磅推出多功能材料微區原位表征系統-FusionScope，將SEM和AFM技術融合在一臺設備上。用戶不需要將樣品從一臺顯微鏡移動到另一臺顯微鏡，也不必使用兩個不同的操作系統來分析樣品上的同一位置，而是在同一用戶界面內、同一位置進行互補性綜合測量。

新一代低電壓透射電子顯微鏡-LVEM 25E是Delong公司推出的新一代低電壓透射電子顯微鏡，配備了五種成像和分析模式，把實驗室材料表征研究推向一個新高度。超快的樣品切換和增強的自動化功能使LVEM 25E成為常規成像應用中十分實用且易用的工具。新一代低電壓透射電子顯微鏡-LVEM 25E能從標準制備的樣品中獲得對比度好、細節豐富的圖像，并能在減少染色的情況下獲得同等細節水平的圖像。

X射線是表面殘余應力測定技術中為數不多的無損檢測法之，是根據材料或制品晶面間距的變化測定應力的，至今仍然是研究得較為廣泛、深入、成熟的殘余應力分析和檢測方法之，被廣泛的應用于科學研究和工業生產的各域。2012年日本Pulstec公司開發出基于全二維探測器技術的殘余應力分析儀——μ-X360n，將用X射線研究殘余應力的測量速度和精度推到了個全新的高度，設備推出不久便得到業界好評

mIRage O-PTIR （Optical Photothermal Infrared）光譜儀是由美國PSC （Photothermal Spectroscopy Corp, 前身Anasys公司）新發布的款款應用廣泛的顯微紅外?；?的光熱誘導共振（PTIR）技術，mIRage產品突破了傳統紅外的光學衍射限，其空間分辨率高達500